I+D y diseño de semiconductores · Vicena Compute beta

De la evidencia científica al silicio abierto.

Conecta literatura, patentes, materiales, litografía, metrología, experimentos, física de dispositivos, circuitos, RTL, verificación e implementación con PDK públicos en un espacio trazable.

Entrada de evidencia

Planificación experimental

Arquitectura y verificación RTL

Arreglo sistólico 4 × 4 · síntesis gestionada real
Isometric 4 by 4 systolic array with signed INT8 activations and weights

Estudio de ejemplo

De “pequeño motor de IA” a una jerarquía sintetizada real.

El estudio se entiende de un vistazo —los números fluyen por una rejilla— pero ejercita las disciplinas del diseño abierto real: interfaces, aritmética con signo, ancho de acumulación, reset, temporización, lint, síntesis, procedencia y límites honestos.

16

Elementos de procesamiento paralelo

Jerarquía sistólica 4 × 4 conservada

16 MAC/cycle

Paralelismo arquitectónico máximo

Después de que el frente llene el arreglo

64 / 64

Salidas de referencia coincidentes

Modelo de ciclos independiente frente a referencia entera

12,961

Celdas genéricas de Yosys

937 secuenciales y 12.024 combinacionales

01

Objetivo de diseño

Empieza con una idea de chip reconocible

El objetivo es un pequeño motor de inferencia: multiplicar dos matrices enteras con signo de 4 × 4 mientras muchos elementos trabajan en paralelo.

02

Arquitectura

Diseña el movimiento de datos

Las activaciones INT8 con signo se mueven horizontalmente, los pesos verticalmente y cada elemento acumula un resultado de 24 bits.

03

Modelo numérico

Haz visible el frente de onda

Un modelo de ciclos muestra 64 operaciones de multiplicación-acumulación barriendo el arreglo en diagonal y contrasta cuatro matrices con una referencia entera.

04

Corrección dirigida

Deja que el control encuentre un defecto real

El primer lint gestionado se detuvo por dos comparaciones sin signo redundantes. Vicena preservó el fallo, eliminó solo esas comparaciones y mantuvo la arquitectura.

05

Cómputo gestionado

Sintetiza el RTL corregido

Verilator 5.032 superó el lint, Yosys 0.52 informó cero problemas y la netlist gestionada conservó las 16 instancias nombradas.

06

Evidencia de diseño

Inspecciona lo que se construyó

La jerarquía, netlist, composición de celdas, sumas de verificación, ficha y procedencia exacta del trabajo quedan disponibles para revisión y la siguiente etapa.

Artefactos del flujo real

Arquitectura, comportamiento y netlist cuentan la misma historia.

El cuaderno comienza con el modelo comprensible del chip, hace visible el frente paralelo, verifica la referencia aritmética y termina con figuras extraídas de la netlist Yosys gestionada.

Resultados trazables
Isometric architecture diagram of a 4 by 4 signed INT8 systolic matrix multiplier

Un pequeño motor de IA con 16 procesadores cooperantes

Activaciones y pesos entran por ejes distintos. Cada elemento realiza multiplicación-acumulación 8 × 8 con signo y conserva un resultado de 24 bits.

Cycle-by-cycle wavefront timing of 64 multiply accumulate operations across 16 processing elements

El cálculo se mueve como una onda

El mapa temporal concreta la concurrencia: cuatro productos internos recorren cada fila y columna mientras la diagonal activa avanza.

Zero-error heatmaps for four independent systolic-array cycle-model reference comparisons

Cada resultado del modelo de ciclos coincidió

Cuatro casos —incluidos extremos con signo— produjeron 64 coincidencias exactas. Es evidencia del modelo de ciclos, no simulación RTL.

Managed Yosys netlist hierarchy retaining 16 processing elements

La netlist gestionada conservó el arreglo

La netlist real contiene controlador superior, bus de resultados y 16 instancias jerárquicas systolic_pe_8x24, no un dibujo conceptual.

Actual technology-independent Yosys cell composition and architectural scaling chart

Composición real de lógica sintetizada

El gráfico procede de netlist.json gestionado: 12.961 celdas independientes de tecnología, 937 secuenciales y 12.024 combinacionales.

Managed synthesis scorecard for a 4 by 4 signed INT8 systolic array

Una ficha conecta intención y evidencia

Arquitectura, ancho aritmético, reset, referencia numérica, lint, síntesis, jerarquía, recuentos, ID y límites científicos permanecen juntos.

Flujos de I+D conectados

Las preguntas, la evidencia de proceso y los artefactos de diseño permanecen conectados.

El desarrollo de semiconductores abarca más que RTL. Vicena conecta litografía, metrología, defectos, materiales, experimentos, física de dispositivos, circuitos e implementación sin exagerar lo que demuestra cada flujo.

EUV process landscape with CD contour, defect risk, uncertainty, measured DOE, and next-test markers

Desarrollo de procesos de litografía

Analiza matrices foco-exposición, curvas de Bossung, ventanas de proceso, respuesta de CD, variabilidad estocástica y próximos puntos DOE.

Wafer signature decomposition showing measured map, radial trend, residual field, and radial profile

Mapas de oblea y analítica metrológica

Descompone firmas de oblea en tendencias radiales, residuos, efectos de campo, valores atípicos, CDU, overlay, espesor de película y defectos.

Defect morphology embedding map with clustered semiconductor defect signatures

Análisis de defectos y fallos

Agrupa morfologías de defectos, conecta cambios de proceso con hipótesis de fallo y prepara planes de pruebas dirigidos.

Materials tradeoff map showing process performance, compatibility margin, evidence, and Pareto candidates

Materiales y química de procesos

Evalúa candidatos por compatibilidad, residuos, desgasificación, solubilidad, riesgos, rendimiento de proceso y evidencia.

Aerial image, resist contour, profile, and edge-slope visualization

Modelado de imagen aérea y contorno de resist

Explora cómo la geometría, la fuente, el umbral, los contornos impresos y la pendiente de borde afectan decisiones de litografía.

Stochastic line-edge ensemble, CD distribution, and robustness analysis for semiconductor lithography

Variabilidad estocástica y robustez

Visualiza conjuntos de bordes de línea, distribuciones de CD, incertidumbre de proceso y robustez frente a foco, dosis y materiales.

Paquetes científicos

Los paquetes científicos detrás del diseño digital, físico y de dispositivos.

  1. Icarus Verilog

    12

    Simulación RTL

    Compila bancos Verilog y SystemVerilog, los ejecuta con vvp y produce ondas VCD inspeccionables.

  2. Verilator

    5.032

    Análisis lint de SystemVerilog

    Encuentra problemas de sintaxis, anchura, signo, lógica inalcanzable y otros fallos RTL antes de síntesis o implementación.

  3. Yosys

    0.52

    Síntesis lógica

    Transforma RTL en netlists independientes de tecnología e informa jerarquía, celdas, memorias y comprobaciones.

  4. OpenROAD

    public 26Q3 workbench

    Diseño físico de RTL a GDS

    Lleva diseños adecuados por floorplanning, colocación, árbol de reloj, enrutado, temporización e implementación con PDK públicos.

  5. KLayout

    Inspección de layout y GDS

    Genera e inspecciona layouts GDS y apoya verificación física sobre plataformas públicas.

  6. DEVSIM

    2.10

    Simulación de dispositivos semiconductores

    Resuelve deriva-difusión y ecuaciones relacionadas para diodos, transistores, materiales, contactos y características eléctricas.

Capacidades científicas

Un camino de algoritmos hacia silicio abierto.

Vicena conecta capas abiertas manteniendo separadas sus afirmaciones: referencia matemática, RTL, síntesis, física de dispositivos, circuitos e implementación física.

Entrada de evidencia

Convierte preguntas técnicas tempranas en informes citados, mapas de patentes, comparaciones de materiales y listas de preguntas abiertas.

Planificación experimental

Convierte evidencia e hipótesis en tablas DOE, planes de metrología, controles, criterios de aceptación y recomendaciones de próximas pruebas.

Arquitectura y verificación RTL

Desarrolla Verilog, interfaces explícitas, reset, canalizaciones, estrategias de prueba, lint y referencias numéricas.

Ejecución de cuadernos

Usa cuadernos reproducibles para ventanas de proceso, mapas de oblea, métricas de defectos, modelos sustitutos y análisis de datos inspeccionables.

Artefactos de decisión

Genera informes técnicos, tablas CSV, figuras, cuadernos, memos de compatibilidad, borradores de método e informes listos para revisión.

Síntesis lógica de código abierto

Usa Verilator y Yosys gestionados para inspeccionar avisos, jerarquía, netlists, celdas y comprobaciones.

Implementación con PDK público

Extiende diseños adecuados hacia floorplanning, colocación, ruteo, temporización, DRC/LVS y estudios RTL-a-GDS con OpenROAD.

Investigación de dispositivos y electrónica de potencia

Conecta modelos DEVSIM, circuitos ngspice, control y flujos abiertos sin confundir sus niveles de evidencia.

Disciplina de evidencia

La corrección forma parte del registro.

La calidad de producción no es ausencia de avisos, sino detenerse ante un problema real, cambiar solo lo respaldado y preservar artefactos exitosos y fallidos para auditar.

La síntesis gestionada exitosa es el trabajo Vicena lca3fe665ef84a8617eb71ce8b3b61df0f.
Verilator 5.032 superó lint; Yosys 0.52 (fee39a3284c90249e1d9684cf6944ffbbcbb8f90) terminó con cero problemas.
Se recuperaron netlist.json y netlist.v con sumas SHA-256 registradas.
El primer fallo permanece en la procedencia y el cuaderno identifica la corrección exacta de dos líneas.

Límite científico

RTL sintetizado no es un chip fabricado.

! Las 64 coincidencias proceden de un modelo de ciclos Python, no de simulación RTL gestionada ni equivalencia formal.
! Las celdas son lógica Yosys independiente de tecnología, no área de celdas estándar caracterizada.
! No se usaron PDK, biblioteca Liberty, floorplan, colocación, ruteo, extracción, STA, DRC/LVS ni análisis de potencia.
! El estudio no afirma frecuencia, cierre temporal, potencia, área física, fabricabilidad, rendimiento de silicio ni preparación para tapeout.

Empieza con tu diseño

¿Qué debería hacer tu próximo chip abierto?

Describe comportamiento y restricciones. Vicena puede estructurar el diseño, elegir el flujo abierto y mantener visible cada capa de verificación.